совокупность рентгеновских дифракционных методов изучения различных дефектов строения в почти совершенных кристаллах. К таким дефектам относятся: блоки и границы структурных элементов, дефекты упаковки, Дислокации, скопления атомов примесей, деформации (См. Деформация). Осуществляя дифракцию рентгеновских лучей (См. Дифракция рентгеновских лучей) на кристаллах различными методами "на просвет" и "на отражение" в специальных рентгеновских камерах (См. Рентгеновская камера), получают рентгенограмму (См. Рентгенограмма) - дифракционное изображение кристалла, называемое в структурном анализе топограммой. Физическую основу методов Р. т. составляет дифракционный контраст в изображении различных областей кристалла в пределах одного дифракционного пятна. Этот контраст формируется вследствие различий интенсивностей или направлений лучей от разных точек кристалла в соответствии с совершенством или ориентацией кристаллической решётки кристалла в этих точках. Эффект, вызываемый изменением хода лучей, позволяет оценивать размеры и дезориентации элементов субструктуры (фрагментов, блоков) в кристаллах, а различие в интенсивностях пучков используется для выявления дефектов упаковки, дислокаций, сегрегаций примесей и напряжений. Р. т. отличают от др. рентгеновских методов исследования кристаллов высокая Разрешающая способность и чувствительность, а также возможность исследования объёмного расположения дефектов в сравнительно крупных по размеру почти совершенных кристаллах (до десятков см).

Линейное разрешение многих методов Р. т. составляет от 20 до 1 мкм, угловое разрешение -от 1' до 0,01". Чувствительность определяется контрастом в интенсивностях дифрагированных лучей от "удачно" и "неудачно" ориентированных областей и от "совершенных" и "искажённых" областей кристалла.

Методы Р. т. различаются по области используемых углов дифракции, по характеру выявляемых дефектов (макроскопические дефекты, дефекты кристаллической решётки), степени несовершенства и дефектности кристаллов, чувствительности и разрешающей способности. На рис. 1-5 приведены принципиальные схемы некоторых методов Р. т. и топограммы кристаллов, полученные этими методами. Преобразование рентгеновских изображений в видимые с последующей их передачей на телевизионный экран позволяет осуществлять контроль дефектности кристаллов в процессе различных воздействий на них при технологической обработке или при исследовании их свойств.

Лит.: Иверонова В. И., Ревкевич Г. П., Теория рассеяния рентгеновских лучей, М., 1972: Умайский Я. С., Рентгенография металлов, М., 1967; Лютцау В. Г., Фишман Ю. М., Метод дифракционной топографии на основе сканирования в широком пучке рентгеновских лучей, "Кристаллография", 1969, т. 14, в. 5, с. 835: Ровинский Б. М., Лютцау В. Г., Ханонкин А. А., Рентгенографические методы исследования структурных несовершенств и дефектов решетки в кристаллических материалах, "Аппаратура и методы рентгеновского анализа", 1971, в. 9, с. 3-35; Kozaki S., Hashizume H., Kohra K., High-resolution video display of X-ray topographs with the divergent Laue method, "Japanese Journal of Applied Physics", 1972, v. 11, № 10, p. 1514.

В. Г. Лютцау.

Рис. 2, б. Топограммы по Фудживара "на просвет" кристалла сапфира, полученные при расстоянии D = 100 мм и В - соответственно 50, 70, 100, 150 мм, что позволяет получать различное разрешение деталей блочной структуры кристалла. На топограмме 5 видны границы блоков (поперечные тёмная и светлая линии) и следы скольжения (тонкие зигзагообразные тёмные линии). Две параллельные вертикальные тёмные линии - следы дифракционных характеристических линий К_α и К_β меняющих положение на границах блоков.

Рис. 3, б. Топограмма блочного кристалла алюминия по Бергу - Барретту. Разворот блоков в кристалле фиксируется в виде светлых участков (1) и границ между тёмными участками (2).

Рис. 1, б. Топограмма по Шульцу алюминииевого монокристалла. Тёмные и светлые полосы на топограмме соответствуют границам блоков в кристалле. Их ширина и цвет определяются величиной и направлением взаимного разворота блоков в кристалле.

Рис. 4, б. Топограмма монокристалла кремния, полученная по методу широкого параллельного пучка.Толщина кристалла 0,3 мм. Видны отдельные ростовые дислокации (тёмные линии). Увеличено.

Рис. 5, б. Топограмма монокристаллов кремния, полученная по методу Ланга. Толщина кристалла 0,5 мм. Видны отдельные дислокации (d). Увеличено.

Рис. 1, а. Схема топографирования кристалла "на отражение" по методу Шульца. Расходящийся из "точечного" (диаметром 25 мкм) фокуса пучок ретгеновских лучей с непрерывным спектром падает на кристалл под углами от ϑ до ϑ', удовлетворяющими условию Лауэ для лин волн от λ до λ'. Отраженный пучок дает его дифракционное изображение на фотопленке.

Рис. 2, а. Схема топографирования кристаллов "на просвет" по методу Фудживара. Расходящийся из "точечного" источника пучок рентгеновских лучей с непрерывным спектром при прохождении через "тонкий" (толщиной t ≥ 1/μ, где μ - коэффициент поглощения рентгеновских лучей) кристалл создаёт его изображение. Увеличение B/D.

Рис. 3, а. Схема топографирования кристаллов "на отражение" по методу Берга и Барретта. Параллельный пучок монохроматического рентгеновского излучения от линейного источника падает на поверхность кристалла под брегговским углом, и дифракционное изображение фиксируется на фотоплёнке, расположенной вблизи кристалла параллельно его поверхности.

Рис. 4, а. Схема топографирования в широком параллельном пучке монохроматического рентгеновского излучения. От линейного фокуса щелями I и II формируется параллельный пучок лучей, падающий на кристалл под брэгговским углом 2ϑ, и из дифрагированного пучка щелью III выделяется параллельный пучок, фиксируемый на фотопластинке. Для исследования больших кристаллов во время съёмки кристалл и фотопластинку можно синхронно перемещать.

Рис. 5, а. Схема топографирования кристаллов в узком параллельном пучке "на просвет" по методу Ланга. Рентгеновские монохроматические лучи от "точечного" источника выделяются узкой (0,1 мм) щелью так, что на кристалл попадает только излучение К_α1. Дифракционное изображение выделяется второй щелью и фиксируется на фотопластинке. Монохроматичность излучения тем выше, чем больше расстояние А и меньше ширина щели S. Для больших кристаллов необходимо синхронное возвратно-поступательное перемещение кристалла и фотопластинки (щели при этом неподвижны).

РЕЛЬ'ЕФ, рельефа, ·муж. (·франц. relief).

1. Выпуклое изображение на плоскости (спец.). Рельефы бывают слабо выпуклыми - барельефы и сильно выпуклыми - горельефы.

2. Строение земной поверхности (геогр., геол.). Пересеченный рельеф местности. Горный рельеф.

1. вид скульптуры, в котором изображение явяляется выпуклым или углубленным по отношению к плоскости фона (спец.).

2. строение земной поверхности, совокупность неровностей суши, океанского и морского дна.

3. выпуклость, выпуклое изображение на плоскости.

муж., ·*франц. (случайное созвучие со словом рель) что-либо выпуклое, возвышенное на плоскости; более говорят о ваянии, лепке, резьбе, чеканке. Рельефная работа, толстая, обронная, вальяжная, вальящатая; толстую работу различают, по степени выпуклости: во всю плоть, в полплоти, в четьплоти и пр.

(географический), совокупность неровностей поверхности суши, дна океанов и морей, многообразных по очертаниям, размерам, происхождению, возрасту и истории развития. Р. слагается из сочетающихся между собой форм - трёхмерных тел, занимающих определённые объёмы земной коры. Они ограничены двухмерными (поверхностными) элементами, или гранями (склонами, горизонтальными и субгоризонтальными поверхностями). Формы могут быть положительными, или выпуклыми (возвышенности, горы и др.), и отрицательными, или вогнутыми (котловины, речные долины и др.), простыми и сложными - осложнёнными второстепенными неровностями. В зависимости от величины форм различают Р. нескольких порядков: мегарельеф, включающий как планетарные формы (например, материковые выступы, ложе океана), так и формы несколько меньшего порядка (горные системы, равнинные страны); макрорельеф (горные хребты, межгорные впадины, возвышенности, низменности); мезорельеф (овраги, подводные каньоны, холмы); микрорельеф (карстовые воронки, степные блюдца и др.); нанорельеф (мельчайшие западины, кротовые и сурчиные кучки, термитники и пр.). Это деление Р. условно, т. к. точные количественные границы между приведёнными категориями не установлены.

Внешние, или морфографические, признаки Р., характеризующие форму склонов, их сочетания, протяжённость и ориентировку важнейших орографических единиц, а также количественные характеристики Р. (см. Морфометрия), не всегда могут служить надёжной основой для его комплексной оценки, поскольку нередко формы с одинаковыми внешними чертами имеют различное происхождение и развиваются по-разному. При морфогенетическом анализе Р. следует различать эндогенные рельефообразующие факторы, обусловленные внутренними силами Земли (преимущественно тектонические движения и вулканическая деятельность), и экзогенные, связанные с лучистой энергией Солнца (текучая вода, ледники, ветер, прибой волн на берегах морей и озёр, избирательное выветривание и др.). Под непосредственным воздействием силы тяжести на поверхности Земли протекают гравитационные процессы (оползни, горные обвалы и др.). Немалую роль в формировании Р. играет также деятельность человека (см. Антропогенный рельеф).

Являясь компонентом географической среды и внося большие изменения в природные условия (во многие черты климата, характер и распределение поверхностных и подземных вод, почвенный и растительный покров), Р. тем самым определяет условия своего дальнейшего развития.

Эндогенные и экзогенные процессы действуют на земную поверхность одновременно, но с различной интенсивностью во времени и пространстве. При ведущем значении эндогенных процессов возникают преимущественно крупные - структурные формы Р. суши, дна морей и океанов. Образование крупнейших (планетарных) форм связано также с силами космического характера - вращением Земли, солнечно-лунным притяжением и др. Экзогенные процессы обычно формируют более мелкие - скульптурные формы, осложняя ими формы крупного масштаба. В зависимости от преобладания того или иного экзогенного фактора различают: флювиальные формы, обязанные своим появлением работе рек и временных потоков; ледниковые, обусловленные деятельностью современных и древних ледников; мерзлотные (криогенные); аридные, в создании которых главную роль играют процессы физического выветривания, работа ветра и др.

Области тектонического поднятия и опускания испытывают противоположные по морфологической направленности воздействия со стороны внешних процессов: возвышенные и поднимающиеся участки земной коры расчленяются, срезаются сверху и с боков, т. е. подвергаются денудации (См. Денудация), а пониженные и опускающиеся заполняются продуктами разрушения и сноса, т. е. являются областями аккумуляции (См. Аккумуляция).

Преобладание тектонических поднятий над совокупным воздействием внешних сил приводит (согласно В. Пенку) к восходящему развитию Р., для которого характерно увеличение абсолютных и относительных высот, глубины расчленения, крутизны склонов; при восходящем развитии Р. энергично протекают процессы речной эрозии и денудации. Пример восходящего развития Р. - Высокогорный тип рельефа, свойственный молодым горным странам (Альпам, Гималаям и др.). Перевес деструктивных экзогенных факторов ведёт к разрушению положительных элементов Р., к его нисходящему развитию: уменьшению абсолютных и относительных высот, появлению вогнутых форм склонов, ослаблению процессов эрозии и денудации. В горных странах нисходящему развитию соответствует среднегорный (средневысотный) тип рельефа (См. Среднегорный тип рельефа) (Урал, Аппалачи). Средневысотные горы, снижаясь, переходят в Низкогорный тип рельефа (например, отдельные массивы Казахского мелкосопочника); на конечной стадии нисходящего развития Р. формируется предельная равнина, или Пенеплен.

Если происходит тектоническое опускание, то в зависимости от интенсивности воздействия внешних сил возникающие депрессии Р. либо увеличиваются в размерах, либо выравниваются благодаря накоплению приносимого со стороны рыхлого материала.

С течением геологического времени соотношение рельефообразующих факторов на каждом участке земной поверхности неоднократно изменяется, накладывая отпечаток на характер Р. Современный Р. суши включает разновозрастные элементы со следами и восходящего, и нисходящего развития, поэтому для правильного понимания Р. принято рассматривать его в палеогеографическом аспекте. Так, показателем смены во времени восходящего и нисходящего развития Р. в горах служит ярусность, изучение которой способствует выяснению истории развития горной страны в целом.

Комбинация и относительная роль в рельефообразовании того или иного экзогенного фактора зависят от климата. В связи с этим размещение на Земле форм Р., созданных главным образом при участии экзогенных процессов, подчиняется закону географической зональности. В пределах равнинных стран суши отчётливо прослеживаются Морфоклиматические зоны, соответствующие территориальной дифференциации современных экзогенных процессов. В горных странах в связи с различиями климата, обусловленными высотой над уровнем моря, выражена вертикальная морфологическая зональность, или поясность. Изменения климата, географической зональности и вертикальной поясности в геологическом прошлом находят отражение в современном Р. ввиду способности Р. сохранять некоторое время свои черты при изменившихся условиях. Поэтому в современной ландшафте местами наблюдается реликтовый Р., не свойственный современным морфоклиматическим условиям (например, ледниковые формы Р. на Восточно-Европейской равнине представляют собой реликт эпохи плейстоценового оледенения). Выделение реликтовых форм позволяет прогнозировать направление дальнейшего развития Р.

Комплексы элементарных форм, сходных но внешнему облику, происхождению, закономерно повторяющиеся на определённой территории, называются генетическими типами Р. Территориальное обособление их может быть связано с особенностями геологической структуры (например, ступенчатый тип Р.), преобладающим воздействием какого-либо внешнего фактора рельефообразования (ледниковый, водноэрозионный, эоловый и др. типы Р.), господствующим влиянием тектонического фактора (первично-тектонический тип Р.) и др.

Одна из актуальных и наиболее сложных проблем - создание генетической классификации Р., которая необходима не только для теоретических обобщений, но и для геоморфологического картографирования. В СССР наиболее распространённой является классификация, в основу которой положено выделение крупных генетических категорий Р., обусловленных преобладающим воздействием эндогенных или экзогенных рельефообразующих процессов.

Формы Р., в образовании которых главная роль принадлежит эндогенным процессам, относятся к морфоструктурам. В морфоструктурах четко отражаются геологические структуры земной коры. Так, платформенным геологическим структурам с горизонтальным залеганием слоев в Р. соответствуют главным образом равнинные области, а складчатым структурам - горные страны. Более мелкие формы Р., имеющие преимущественно экзогенное происхождение (речные долины, овраги, барханы, моренные гряды и др.), выделяются как морфоскульптуры.

Генетическим изучением Р. занимается Геоморфология. Результаты изучения Р. находят применение при решении многих задач: при мелиорации, инженерно-технических изысканиях, поисках полезных ископаемых и др.

Об основных чертах Р. суши и дна океанов см. в ст. Земля.

Лит.: Марков К. К., Основные проблемы геоморфологии, М., 1948; Щукин И. С., Общая геоморфология, 2 изд., т. 1-3, М., 1960-74; Николаевы. И., Неотектоника и её выражение в структуре и рельефе территории СССР, М., 1962; Мещеряков Ю. А., Структурная геоморфология равнинных стран, М., 1965; его же, Рельеф СССР (Морфоструктура и морфоскульптура), М., 1972; Рельеф Земли (Морфоструктура и морфоскульптура), М., 1967: Звонкова Т. В., Прикладная геоморфология, М., 1970; Криволуцкий А. Е., Жизнь земной поверхности (Проблемы геоморфологии), М., 1971. См. также лит. при ст. Геоморфология.

Т. К. Захарова.

скульптурное изображение на плоскости. Неразрывная связь с плоскостью, являющейся физической основой и фоном изображения, составляет специфическую особенность Р. Важнейшие выразительные средства, присущие Р., - развёртывание композиции на плоскости, возможность перспективного построения пространственных планов и создания иллюзии округлости объёмов, тонкая моделировка форм - позволяют воспроизводить в Р. сложные многофигурные сцены, а также архитектурные и пейзажные мотивы (составляющие характерную особенность многопланового, т. н. живописного, Р.). Р. может включаться в композицию стены, свода, скульптурного памятника и т. д. или быть самостоятельным станковым произведением.

По отношению к плоскости фона различают углублённый и выпуклый Р. Углублённый Р. (т. н. койланоглиф, или Р. "en ccreux", т. е. вырезанный на плоскости контур) получил применение главным образом в архитектуре Древнего Египта, а также в древневосточной и античной глиптике (см. Инталия). Разновидностью углублённого Р. является т. н. контррельеф, также использовавшийся при изготовлении инталий; строго негативный по отношению к выпуклому Р., он был рассчитан на пластический отпечаток в виде миниатюрного барельефа. Выпуклый Р., подразделяющийся, в свою очередь, на низкий - Барельеф и высокий - Горельеф, значительно более распространен: он известен уже в эпоху палеолита, позднее - в Древнем Египте, Ассирии, Индии, Китае и получил особенное развитие в античном искусстве (Р. на фронтонах, метопах и фризах древнегреческих храмов, на древнеримских триумфальных арках и колоннах и т. д.), в эпоху Возрождения и в скульптуре последующего времени. См. также статьи Скульптура, Глиптика, Медальерное искусство.

Г. А. Дауман, М. Г. Шварцман. "Обуздание атомной энергии". Фрагмент рельефа в вистебюле Московского инженерно-физического института. Цемент и смальтовая мозаика. 1962.

Дж. Манцу. "Смерть насильственная". Эскиз рельефа для "Врат смерти" собора св. Петра в Риме. Гипс. 1947-64.

К. Менье. "Индустрия". Рельеф для "Памятника труду" в Брюсселе. Бронза. 1901. Музей Менье. Брюссель.

Ф. П. Толстой. Рельефный медальон "Бой при Малом Ярославце". Воск. Около 1818. Русский музей. Ленинград.

Л. Гиберти. "Жертвоприношение Авраама". Рельеф для северных дверей баптистерия во Флоренции. Бронза. 1401-02. Национальный музей. Флоренция.

Скопас. "Амазономахия". Фрагмент рельефного фриза Галикарнасского мавзолея. Мрамор. Около 350 до н. э.

"Тайная вечеря". Рельеф на ограде западного хора собора в Наумбурге. Камень. Около 1250-60.

А. С. Голубкина. "Волна". ("Пловец"). Рельеф над входом Московского Художественного театра. Гипс. 1901.

Древнеегипетский рельеф с изображением полевых работ. Известняк. Середина 3-го тысячелетия до н. э. Лувр. Париж.

Ассирийский рельеф "Царь и бог" из дворца Ашшурнасирпала II в Кальху. Известняк. 883-859 до н. э.